ANGSTROM SUN
Angstrom Sun Technologies Inc. es una empresa privada con sede en Boston, EE.UU. El objetivo de la empresa es proporcionar una serie de soluciones ópticas rentables para caracterizar el espesor de películas finas, el espesor de revestimientos gruesos, sus propiedades ópticas (índice de refracción N y coeficiente de extinción K), el comportamiento de la superficie y la interfaz, las concentraciones de aleación y sus uniformidades en toda la superficie.
HERRAMIENTAS DE MEDICION DE ESPESOR DE PELÍCULA Y SR
La serie de reflectómetros espectroscópicos (SR) son herramientas de bajo costo y fáciles de usar. Al medir los espectros de reflexión (con incidencia normal en la mayoría de los casos), las propiedades de la película se pueden modelar con el software TFProbe. Si se necesitan mediciones rápidas, rutinarias y diarias en películas conocidas o en una pila de películas simple en un caso de bajo presupuesto, entonces la serie SR es una buena opción.
Espectroscópico Elipsómetro Serie SE
Ofrece una solución para trabajar en películas ultradelgadas con elipsometría y también en áreas micrométricas pequeñas con microrreflectometría, una configuración única que combina elipsómetros y microespectrofotómetros. El software de la versión 3.3 de TFProbe se encargará tanto de las mediciones como de los análisis. Para algunas aplicaciones, como las características de los MEMS o las obleas de productos semiconductores, se desea un punto de sondeo pequeño.
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ELIPSÓMETRO-ESPECTROSCÓPICO-INFRARROJO-IRSE
La elipsometría espectroscópica (SE) es una técnica óptica ampliamente utilizada para caracterizar una amplia gama de materiales, incluidos materiales a granel, películas delgadas, recubrimientos y capas tanto en la superficie como incrustadas dentro del material. Proporciona información valiosa sobre las propiedades ópticas de los materiales al analizar el cambio en el estado de polarización de la luz reflejada o transmitida a través de la muestra.
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ELIPSÓMETRO-ESPECTROSCÓPICO-DUV-VIS-NIR
El elipsómetro espectroscópico se puede configurar para cubrir un amplio rango de longitudes de onda, desde DUV hasta NIR. El rango DUV es útil para medir películas ultradelgadas, como el rango de espesor nanométrico. Un ejemplo es el óxido nativo en la oblea de silicio, que normalmente tiene un espesor de solo 1 a 2 nm. El elipsómetro espectroscópico de UV profundo también es esencial cuando el usuario necesita medir brechas de banda de muchos materiales.
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ELIPSÓMETRO-ESPECTROSCÓPICO-SE-SOLAR
El elipsómetro espectroscópico SE-Solar está diseñado para aplicaciones fotovoltaicas (PV). Puede configurarse para cubrir el rango DUV a NIR con un goniómetro manual para cambios de ángulo de incidencia en intervalos de 5 grados o un goniómetro automático con una resolución de 0,001 grados. La configuración de detección basada en matriz le brinda al usuario una medición rápida, en solo segundos para cada dato. Cuando se necesita un mapeo o una medición in situ en tiempo real.
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ELIPSÓMETRO-ESPECTROSCÓPICO-CON-AUTOMATIZACIÓN
La elipsometría espectroscópica (SE) es una técnica óptica bien establecida para la caracterización de materiales a granel, películas delgadas, recubrimientos, tanto superficiales como incrustadas, de forma no destructiva y sin contacto. Para el control de calidad de los procesos de rutina y de fabricación, es imprescindible contar con un manipulador automático de casetes. Hemos desarrollado una solución de bajo costo.
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ELIPSÓMETRO-TFPROBE-PARA-EDUCACIÓN-ESE
Nos complace en presentar la versión educativa TFProbe eSE para universidades, empresas emergentes y usuarios de I+D. Es una herramienta espectroscópica asequible y auténtica. Viene con el software avanzado TFProbe 3.3 para configuración del sistema, adquisición de datos, simulación y regresión. Los diferentes niveles de inicio de sesión de usuario permiten a los científicos e ingenieros jugar con pilas de capas complicadas, isotrópicas/anisotrópicas, superretículas, no homogéneas.
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MICROESPECTROFOTÓMETRO-ECONÓMICO-EMSP
Presentamos un conjunto de herramientas eMSP de micropsectrofotómetro económico y de bajo costo para la medición del espectro de la región de micrones y el espesor de la película, tiene la misma cobertura de longitud de onda que los micropsectrofotómetros regulares/estándar, utilizando el mismo software TFProbe para adquisición de datos, simulación, modelado y más. Su diseño único garantiza que las universidades y las pequeñas empresas emergentes gasten menos dinero.
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MICROESPECTROFOTÓMETRO-MSP-DUV-VIS-NIR
El microespectrofotómetro se utiliza para caracterizar las propiedades ópticas de películas delgadas y revestimientos gruesos en un área de una región de micrones. El microespectrofotómetro también se denomina microreflectómetro, microespectrómetro, microfotómetro, fotómetro microespectroscópico, etc. Con un diseño exclusivo de los profesionales de Angstrom, el usuario puede disfrutar de la capacidad de generación de imágenes digitales en los microespectrofotómetros (serie MSP).
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HERRAMIENTAS-DE-MAPEO-DE-ESPOR-DE-PELÍCULA-SRM
Cuando necesite información sobre la uniformidad de la película fina procesada, nuestra herramienta de mapeo de la serie SRM es para usted. La herramienta de mapeo de reflectómetro espectroscópico (SRM) se basa en la técnica de reflectometría y tiene el mismo principio de funcionamiento que el reflectómetro espectroscópico. La serie SRM le permite mapear el espesor de la película y el índice de refracción de hasta 5 capas. No es necesario preocuparse por equipos complicados, ya que la herramienta SRM es fácil de configurar y operar.
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FUENTE-LUZ-DUV-VIS-NIR-DHL-3020
Angstrom Sun Technologies Inc. presentó una fuente de luz DUV-Vis-NIR de alto rendimiento para aplicaciones de fotometría y elipsometría. Esta fuente de luz cubre un rango de longitud de onda de 190 a 2500 nm, con capacidad de control remoto desde un programa informático con señales de nivel TTL. El diseño de lámpara doble ofrece una salida de intensidad equilibrada. El temporizador integrado proporciona comodidad para reemplazar las lámparas durante su vida útil.
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